SIMS - Pour l'analyse en profondeur, les mesures de la composition des surfaces et pour l'imagerie isotopique, la Station de Travail SIMS de chez Hiden fournit une solution analytique complète.

Produits

Station de Travail SIMS

A complete SIMS analysis facility.

Analyseur SIMS / SNMS : MAXIM

For static and dynamic SIMS applications.

Série IFG : Canons à Ions et à Atomes (FAB)

For surface and depth analysis applications.

Analyseur SIMS : l'EQS

Sondes "Prête à Monter".

Série 3F

Triple filter high performance quadrupole mass spectrometers.

Spectromètres de Masse PIC

Pulse ion counting detection.

Série RGA

RGA series quadrupole mass spectrometers.

SIMS - Secondary Ion Mass Spectrometers (1676K)

Attention : Vous devez être connectés pour avoir accès aux documents suivants.

Energetic (Fast) Neutral Species Analysis (96K)

Energy Distributions of Ions and Atoms from a Magnetron Source (174K)

EQP/EQS Time Resolved Studies in Ion Beam Etch and Plasma Processes (248K)

EQS vs EPIC - Ion Energy Distributions (272K)

Fast Neutrals Analysis (302K)

Data/Control Inputs and Outputs and Special Applications (18K)

EPIC 1000 Series Dimensions (42K)

EQS 1000 Series Probe Schematic (80K)

EQS 300/500 Series Probe Schematic (54K)

SIMS Imaging FoV Schematic (62K)

UHV TPD Custom Shrouds (2752K)

3F/PIC Systems for UHV Temperature Programmed Desorption (85K)

IG20 Ion Gun for Dynamic SIMS (62K)

IMP End Point Detector System for Ion Beam Etch Applications (279K)

SIMS Images (2219K)

SIMS Workstation & Bolt-On Components (4320K)