Les nanotechnologies concernent la recherche et de le développement de technologies nouvelles à l'échelle atomique, moléculaire ou macromoléculaire. Les échelles en jeu sont de l'ordre de 1 à 100 nanomètres.

Les spectromètres de masse de chez Hiden offrent des outils de 1ère classe pour les analyses de vide, des plasmas et des surfaces nécessaires dans les différentes applications des nanotechnologies. Cela inclut les analyses SIMS de la profondeur des couches minces, la caractérisation des plasmas utilisés dans les différents procédés de gravure, l'analyse du vide dans les microscopes STM et AFM et les mesures de désorption à programmation de température.

Produits

Plateforme SIMS

A plateforme complète pour l'analyse SIMS.

Sonde XBS

Suivi et contrôle des vitesses de déposition en MBE.

Pièces détachées

Consommables pour spectromètres de masse quadripolaires.

SIMS - Secondary Ion Mass Spectrometers (1676K)

Attention : Vous devez être connectés pour avoir accès aux documents suivants.

EQS vs EPIC - Ion Energy Distributions (272K)

Data/Control Inputs and Outputs and Special Applications (16K)

Example Data - End Point Detection (58K)

Charged Particle Analysis in Plasma Assisted Processes (597K)